尼克斯（QuaNix）测厚仪（膜厚计）

    产品特点：

1. 零位稳定：所有涂层测厚仪测量前都要求校准零位，可以在随仪器的校零板或未涂覆的工件上校零。仪器零位的稳定是保证测量准确的前提。台好的测厚仪校零后，可以长时间保持零位不漂移，确保准确测量。
2. 无需校准：多数涂层测厚仪除了校零外，还需要用标准片进行调校。测量某范围厚度，要用某范围的标准片调校。主要是不能满足全范围内的线性精度。不仅操作烦琐，而且也会因标准片表面粗糙失效，增大系统误差。尼克斯涂层测厚仪可以满足全量程范围内数值准确
3. 温度补偿：涂覆层厚度的测量受温度影响非常大。同工件在不同温度下测量会得出很大的误差。所以好的测厚仪应该具备理想的温度补偿技术，以保证不同温度下的测量精度。
4. 红宝石探头：探头接触点的耐磨性直接影响测量的精度。普通金属接触探头，其表面磨损后会带来很大的误差。
5. 特的直流采样技术：使得测量重复性较传统交流技术有无可比拟的越和提高。
6.  单探头量程大：0－5mmQNix®4200（含QNix®4200、QNix®4200/5、QNix®4200P、QNix®4200P5）可测量磁性金属表面非磁性涂镀层厚度。（Fe）QNix®4500（含QNix®4500、QNix®4500/5、QNix®4500P、QNix®4500P5可测量磁性金属表面非磁性涂镀层厚度及非磁性金属表面非导电涂层厚度。（Fe/NFe双用）标准：符合ISO 2178,2360,2808及ASTM B 499,D709标准

产品技术参数：